本測量設備是用于各種材料散射特性測量。通過光源一維旋轉，探測器二維旋轉實現不同入射和反射（透射）幾何條件下樣品反射、透射輻亮度的測量。系統包括準直光源、光源支架、可調樣品支架、探測器、探測器旋轉機構、探測器支架及測試軟件等部分。

BRDF/BTDF測試儀主要測試參數

?復色光和單色光BRDF

?復色光和單色光BTDF

?不同角度反射透射光通量

?不同角度反射透射輻射亮度

?材料不同角度散射光色溫，色坐標

BRDF/BTDF測試儀系統結構

1. 光源

?為提高樣品散射信號的信噪比，采用寬光譜高亮度鹵鎢燈作為光源，并通過準直透鏡將光線準直后出射到樣品上。

?可通過調節透鏡焦距，實現不同大小光斑。

?光源還可增加濾光片，實現不同顏色單色光入射。

2.探測器

?采用硅探測器，探測范圍350nm-1000nm。

?探測器將光信號轉換為電信號，由鎖相放大器放大并根據斬波器頻率提取信號獲得光譜DN值。

3.軟件部分

為了提高測量速度和精度，特別為裝置開發了測控軟件，支持多種幾何條件下散射特性一次性自動測量。首先進行光源入射輻亮度測量，而后對樣品漫射板設定幾何條件反射輻亮度進行測量，如此循環直至完成所有設定幾何條件的散射特性測量為止，軟件直接輸出散射特性曲線。